The design of a test method to identify reliability problems of consumer electronic product during early phases of development

Abstract

Günümüzde tüketici elektroniği pazarı, hızla gelişen teknoloji, artan üretici sayısı ve yüksek müşteri beklentileri sebebiyle aşırı rekabetçi hale gelmiştir. Bu rekabetçi pazar koşulları altında şirketler ürünlerinin kalitesini ve güvenilirlik seviyesini korumaya ve geliştirmeye çalışmaktadırlar. Ürünlerin tasarımda üretime geçiş zamanları oldukça kısalmıştır. Maliyet düşürme çalışmaları, alternatif malzemeler, yeni ek özellikler gibi hızlı tasarım değişiklikleri sebebiyle güvenilirlik testlerinde kullanılan klasik yaklaşım, ürünler için istenilen güvenilirlik seviyesini sağlayamaz ve ihtiyaçlara yeterli hızda cevap veremez. Müşterinin ihtiyaçlarını uzun süre karşılayabilen hatalarından arındırılmış ve sağlam ürünler geliştirmek ve yeni ürünlerin güvenilirliklerini eski ürünler ile karşılaştırabilmek amacıyla güvenilirlik için yeni bir metot geliştirme ihtiyacı oluşmuştur. Bu faktörleri birleştiren, Olgunluk Seviyesi veya Hata Risk Faktörü isimli, yeni bir parametre geliştirilmiştir ve sonrasında bu parametre klasik güvenilirlik tahmin metotlarıyla birleştirilmiştir. Özellikle yeni yaklaşım AR-GE aşamasında yapılan, donanım ve yazılım testlerinden oluşan, nitel güvenilirlik testlerini ele almaktadır ve basit matematiksel yaklaşımlar ile diğer güvenilirlik tahmin metotları ile birleştirilmişlerdir. Sonuç olarak, yeni yaklaşımın klasik tahmin metotlarına göre daha kesin tahmin sonuçları vermesi beklenmektedir. Bu tahmin modeliyle güvenilirlik analistleri, ürünlerinin güvenilirliklerini ve geri dönüş oranlarını hakkında daha kesin tahminlerde bulunabileceklerdir. The rapid advances in technology, the increase on the number of manufacturers and high consumer expectations make today?s consumer electronics market highly competitive. Under these competitive market conditions, companies try to keep and increase their quality and reliability level of their products. Design to manufacturing time is becoming shorter and shorter. The classical approach for reliability testing cannot maintain desired reliability levels for products due to rapid changes on design such as cost down works, alternative components and additional new features and also such methods cannot respond with enough speed. A new approach for reliability must be developed in order to get trouble-free and robust products, which satisfies customer needs for a long time and this approach must show how reliable the new product is against the old one. A novel parameter, called maturity level (ML) or failure risk factor (FRF), which is given by 1-ML, is demonstrated to incorporate such factors and it is combined with traditional reliability prediction methods. Specifically, the new approach takes into account the qualitative reliability tests, which include hardware and software tests, performed during the research and development (R&D) stage and combines them with the other reliability prediction methods by using basic approaches. As a result, the new approach gives more accurate predictions compared with traditional prediction methods. Therefore, reliability analysts can determine the reliability and return rate of their products more accurately with this prediction model.